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阻抗分析儀與LCR測(cè)試儀的比較

 
      阻抗分析儀是一種電子測(cè)試儀器。它可以測(cè)量復(fù)數(shù)電阻隨測(cè)試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件,電子電路和元件材料的一個(gè)很重要的參數(shù)。另外,阻抗分析可以還被應(yīng)用到介電材料,比如生物組織,食品和地質(zhì)樣本中。
      阻抗分析儀測(cè)得的阻抗包含阻抗幅值,實(shí)部,虛部,以及由電壓和電流造成的相位(差)。根據(jù)等效電路模型,一些阻抗參數(shù)包括電導(dǎo),電感和電容,即可被輕松的計(jì)算并顯示出來(lái)。
      阻抗分析儀一般能夠提供高精度的阻抗測(cè)量,比如0.05%的基本精度,從μHz到GHz的頻率范圍,從μΩ 到 TΩ的幅值范圍, 同時(shí)還有10 mdeg 的相位精度。

      與阻抗分析儀相比,LCR測(cè)試儀也提供了阻抗測(cè)量的功能。一般來(lái)說(shuō),它的精度比較接近阻抗分析儀,但是頻率范圍較低。同時(shí),LCR測(cè)試儀只能測(cè)量固定頻率下的阻抗,不能掃頻,也不能圖形化顯示測(cè)量結(jié)果。




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